发明名称 Process and device for mutually aligning objects.
摘要 <p>Ausrichtmarken in Form periodischer Gitter (1a, 2a) werden von einer Fernsehkamera (20) abgetastet und der relative Phasenunterschied der beiden Abtastsignale elektronisch mit digitalen oder analogen Mitteln bestimmt. Im ersten Fall errechnet ein Mikroprozessor (26) mindestens die Grundwelle des Fourierspektrums von jedem Abtastsignal, um aus deren Phasenlage die Ausrichtung zu errechnen. Werden Gitter mit verschiedenen Gitterkonstanten auf der Maske bzw. dem Wafer verwendet, so entstehen durch Überlagerung der ermittelten Grundwellen Schwebungen, die ein sehr empfindliches Maß für Ausrichtfehler darstellen. Bei der analogen Auswertung wird eines der Abtastsignale entsprechend der zu unterschiedlichen Zeiten erfolgenden Zeilenabtastung verzögert, bevor es zusammen mit dem anderen Signal einem phasenempfindlichen Verstärker zugeführt wird, um die Differenzphase zu bestimmen.</p>
申请公布号 EP0135597(A1) 申请公布日期 1985.04.03
申请号 EP19830109475 申请日期 1983.09.23
申请人 IBM DEUTSCHLAND GMBH;INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 SCHEDEWIE, FRANZ, DR. DIPL.-PHYS.
分类号 H01L21/30;G01B11/00;G03F9/00;H01L21/027;(IPC1-7):G03B41/00 主分类号 H01L21/30
代理机构 代理人
主权项
地址