| 发明名称 |
DEVICE FOR TESTING CIRCUIT IN DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5987379(A) |
申请公布日期 |
1984.05.19 |
| 申请号 |
JP19830179077 |
申请日期 |
1983.09.27 |
| 申请人 |
BENDIX CORP:THE |
发明人 |
JIYOZEFU EI MAGII;BARII EFU BUIRENSUKII |
| 分类号 |
G01R31/28;G09G5/00;H04N17/00;H04N17/06 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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