发明名称 |
LENTILLE D'EMISSION ET D'OBJECTIF ELECTROSTATIQUE COMBINEE |
摘要 |
<P>LENTILLE D'EMISSION ET D'OBJECTIF COMBINEE NOTAMMENT POUR UNE SONDE A MICROFAISCEAU POUR LA SPECTROSCOPIE DE MASSE PAR IONS SECONDAIRES.</P><P>UN PREMIER AGENCEMENT D'ELECTRODE VOISIN DE L'ECHANTILLON P COMPORTE UNE PREMIERE LENTILLE B; SON POTENTIEL EST TEL QUE LE CHAMP ELECTRIQUE ENTRE LA LENTILLE ET L'ECHANTILLON EST EGAL AU MOINS A 40 DU CHAMP DE CLAQUAGE SOUS VIDE. IL COMPORTE UNE SECONDE ELECTRODE B DISPOSEE DU COTE DE LA PREMIERE ELECTRODE OPPOSE A L'ECHANTILLON; CETTE ELECTRODE EST AU POTENTIEL V PAR RAPPORT A LA SURFACE DE L'ECHANTILLON. LES DISTANCES D, D ET LES POTENTIELS V, V SONT TELS QUE LE FAISCEAU PRIMAIRE ACCELERE PAR UNE TENSION V EST FOCALISE SUR UNE PETITE ZONE PF.</P>
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申请公布号 |
FR2532111(A1) |
申请公布日期 |
1984.02.24 |
申请号 |
FR19830013484 |
申请日期 |
1983.08.19 |
申请人 |
MAX PLANCK FORDERUNG WISSENSCHAF |
发明人 |
HELMUT LIEBL |
分类号 |
H01J37/12;H01J37/244;H01J37/252;(IPC1-7):H01J37/12;G01N23/22 |
主分类号 |
H01J37/12 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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