发明名称 Method and device for measuring reflection.
摘要 <p>Bei Remissionsmessungen hängt des Meßergebnis sehr kritisch vom Abstand dar Sender- und/oder Empfängerfläche von der Remissionsfläche ab. Indem das Strahlenbündel eines Senders auf dem Meßfeld vom Strahlenbündel mindestens eines weiteren Senders überlagert wird, werden die Meßergebnisse innerhalb eines breiten Arbeitsbereiches vom Abstand des Meßfeldes hinsichtlich der Sender- und/oder Empfängerebene unabhängig, so daß sich dadurch bei der Messung ein Tiefenausgleich ergibt. Vorzugsweise sind die Sender hinsichtlich der Empfangsstrahlachse achssymmetrisch oder hinsichtlich einer Ebene, in der die Empfangsstrahlachse liegt, ebenensymmetrisch angeordnet.</p>
申请公布号 EP0099024(A2) 申请公布日期 1984.01.25
申请号 EP19830106310 申请日期 1983.06.29
申请人 COMPUR-ELECTRONIC GMBH 发明人 BARRY, JURGEN
分类号 G01N21/47;(IPC1-7):01N21/47 主分类号 G01N21/47
代理机构 代理人
主权项
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