| 主权项 |
1.一用于一静态跳脱断路器之电子跳脱单元包括:用来察觉在一保护之电路内之电流之变量器装置;与所述变量器装置连接且具有用来判定在所述保护之电器内之过流状态之一输入和一输出之信号处理机装置;及与所述信号处理机输入连接以回应一接收于所述信号处理机输出处之测式输出信号来调整一至所述信号处理机输入之测试输入信号之校准电路装置。2.如请求专利部份第1项之电子跳脱单元,其中所述校准电路装置包括一电阻网路。3.如请求专利部份第2项之电子跳脱单元,其中所述电阻网路包括一经由相对应之很多开关并联很多第二电阻器之第一电阻器。4.如请求专利部份第3项之电子跳脱单元,其中所述开关包括可熔链。5.如请求专利部份第4项之电子跳脱单元,其中所述第二电阻器为有关于所述测试输出信号之预定値之二进位加权。6.如请求专利部份第1项之电子跳脱单元更包含一与所述信号处理机连接以设定所述静态跳脱断路器之安培定额之可替换定额插头。7.如请求专利部份第1项之电子跳脱单元,其中所述定额插头包括一包含至少一负载电阻器之电路板。8.如请求专利部份第7项之电子跳脱单元更包含一第一对终端用来电连接所述第一终端以提供一第一过流拾波选择。9.如请求专利部份第8项之电子跳脱单元包含一第二对终端用来电连接所述第二终端且保存拆开之所述第一终端以提供一第二过流拾波选择。10.如请求专利部份第8项之电子跳脱单元,其中所述第一终端被连接且所述第二终端被连接来提供一第三过流拾波选择。11.如请求专利部份第8项之电子跳脱单元,其中所述第一终端被拆开且所述第二终端亦被拆开来提供一第四过流拾波选择。12.一用来校准断路器电子跳脱单元之方法包括下列步骤:供应一测试输入给所述跳脱单元且读取一第一拾波位准输出回应。比较所述第一拾波位准输出回应于一预定之拾波位准且决定一第一差异値;比较所述第一差异値于预定之二进加权电阻値以提供一第一校准电阻値;及调整一在所述跳脱单元内之电阻网路以提供所述第一校准电阻値至所述跳脱单元。13.如请求专利部份第12.项之方法包含下列步骤:再次提供所述测试输入信号给所述跳脱单元且读取一第二拾波位准;输出;及比较所述第二拾波位准输出于一第二预定之拾波位准来判定一第二差异値低于所述第一差异値。14.如请求专利部份第12.项之方法包含连续地增加所述测试输入信号直到达到所述第一拾波回应之步骤。15.如请求专利部份第12.项之方法包含下列步骤:如很多修整电阻器经由相应应之很多可熔链并联一基电阻器般排列所述电阻网路。16.如请求专利部份第15.项之方法,其中调整所述电阻网路之所述步骤包括:熔化所述可熔链之一预定之组合以提供所述第一校准电阻値。17.如请求专利部份第16.项之方法,其中熔化所述可熔链链之所述步骤包括电阻加热。18.如请求专利部份第16.项之方法,其中熔化所述可熔链之所述步骤包括光雷射加热。19.如请求专利部份第12.项之方法,其中比较所述第一拾波位准回应和比较所述差异値之所述步骤包括在一数位处理机内之查表。 |
