发明名称 GaN薄膜贴合基板及其制造方法、与GaN系半导体元件及其制造方法SUBSTRATE HAVING THIN FILM OF GAN JOINED THEREON AND METHOD OF FABRICATING THE SAME, AND A GAN-BASED SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME
摘要 本GaN薄膜贴合基板(1)之制造方法包含以下步骤:于GaN块体结晶体(10)贴合化学组成与GaN不同之异种基板(20);及于与异种基板(20)之界面具有0.1 m以上、100 m以下之距离之面(10t),分割GaN块体结晶体(10),而于异种基板(20)上形成GaN薄膜(10a);GaN块体结晶体(10)之贴合面之最大表面粗度Rmax为20 m以下。藉此,能以低成本来制造一种GaN系半导体元件,其包含:GaN薄膜强固地贴合于异种基板之GaN薄膜贴合基板及形成于GaN薄膜上之至少1层GaN系半导体层。
申请公布号 TW200818248 申请公布日期 2008.04.16
申请号 TW096120036 申请日期 2007.06.05
申请人 住友电气工业股份有限公司 发明人 笠井仁;八乡昭广;三浦祥纪;秋田胜史
分类号 H01L21/00(2006.01);H01L33/00(2006.01);C30B25/18(2006.01) 主分类号 H01L21/00(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本
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