An isolating layered structure for a gate, process for manufacturing and use of that structure.

摘要

Das erfindungsgemäße Verfahren wird im Rahmen der Herstellung von Feldeffekttransistoren eingesetzt und bevorzugt so durchgeführt, daß auf der Oberfläche eines Siliciumsubstrats (1) beispielsweise mittels einer basischen, Aluminium enthaltenden Reinigungslösung eine dünne Aluminiumschicht (2) abgeschieden wird, anschließend thermisch oxidiert wird, wobei sich außer einer Siliciumdioxidschicht (3) eine ungefähr 1 bis 1,5 nm dicke Aluminiumoxid und Siliciumdioxid enthaltende Schicht (4) bildet und schließlich - sofern erwünscht - noch mindestens eine weitere Schicht beispielsweise Si3N4- (5) oder eine Si3N4- (5) und eine SiO2-Schicht aufgebracht werden. Durch einen Zusatz von ungefähr 400 ppb Aluminium zu der Reinigungslösung was dann in der fertigen Struktur einer Aluminiummenge von ungefähr 250 pg/cm² Schichtoberfläche gleichzusetzen ist, wird die Schwellspannung VS um ungefähr 470 Millivolt angehoben. Die erfindungsgemäß hergestellte Struktur findet insbesondere Anwendung in N-Kanal-Feldeffekttransistoren vom Anreicherungstyp. welche in großer Zahl und hintereinandergeschaltet auf Halbleitersubstraten in hoher Dichte integriert sind.