<p>Bei einem Verfahren bzw. einer Vorrichtung zur Gasmessung wird ein Halbleitersensorelement eingesetzt. Die Temperatur des Halbleitersensorelements wird gemessen; sein Leitwert bzw. Widerstand ist durch das Meßgas beeinflußbar. Um bei einem derartigen Verfahren bzw. bei einer solchen Vorrichtung bessere und genauere Meßergebnisse zu erzielen, werden die Temperatur und/oder der Leitwert bzw. Widerstand und/oder die Bedeckung mit Meßgas des Halbleitersensorelements durch Eingriffe beeinflußt und/oder als Meßgröße erfaßt.</p>
申请公布号
EP0488102(A2)
申请公布日期
1992.06.03
申请号
EP19910120045
申请日期
1991.11.25
申请人
E.T.R. ELEKTRONIK TECHNOLOGIE RUMP GMBH
发明人
RUMP, HANNS;BARGMANN, WOLF-DIETER;KOHL, CLAUS-DIETER;HILLER, JOERG;FRITZ, TORSTEN;BOETTCHER, HORST, PROF. DR.