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<P>PROCEDE DE MESURE OPTOELECTRONIQUE POUR LA DETERMINATION DE LA QUALITE DE SURFACES A REFLEXION DIFFUSE.</P><P>LE FASCEAU 9 EST DIRIGE PERPENDICULAIREMENT A LA SURFACE A ETUDIER 12 ET LE FAISCEAU A REPARTITION SPATIALE, REFLECHI PAR L'ELEMENT DE SURFACE ECLAIRE, EST DECELE PAR LES DETECTEURS PHOTO-ELECTRIQUES 8 DANS UN ANGLE SOLIDE, QUI EST ADAPTE A L'ELARGISSEMENT PROBABLE DU FAISCEAU PAR SUITE DE LA REFLEXION DIFFUSE; ET DES VALEURS INTEGRALES SONT FORMEES A PARTIR DE L'ENSEMBLE DES VALEURS MESUREES ET CONSTITUENT LA MESURE DE LA QUALITE DE SURFACE.</P><P>APPLICATION NOTAMMENT AUX PIECES METALLIQUES DONT LA SURFACE A ETUDIER EST ECLAIREE PAR LE FAISCEAU PARALLELE D'UNE SOURCE ET LA REPARTITION D'INTENSITE DU FAISCEAU REFLECHI EST MESUREE PAR DES DETECTEURS PHOTO-ELECTRIQUES, PUIS INTERPRETEE ELECTRONIQUEMENT.</P>
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