| 发明名称 |
(B2) ;APPARATUS FOR NON-DESTRUCTIVE DETERMINATION OF METAL SURFACE LAYER CONDITION USING THE METHOD OF ANGULAR CORRELATION OF RADIATION ORIGINATED BI-PHOTON ANIHILATION OF POSITRONES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL231412(A2) |
申请公布日期 |
1982.03.29 |
| 申请号 |
PL19810231412 |
申请日期 |
1981.05.28 |
| 申请人 |
LUBELSKA POLT |
发明人 |
GOWOREK TOMASZ;GUSTAW WIESLAW;PAROL ADOLF;WAWRYSZCZUK JAN;ZALESKI KAZIMIERZ |
| 分类号 |
G01N;G01N23/22;G01T1/29;(IPC1-7):G01N/ |
主分类号 |
G01N |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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