发明名称 EXTREME ULTRAVIOLET LIGHT SOURCE
摘要 타겟 영역(230)과 적어도 부분적으로 일치하는 제1 잔류 플라즈마(227a)를 형성하며, 타겟 영역에 대해 제1 공간 분포의 타겟 재료(220b)를 포함하는 타겟을 제공하며 - 여기서, 타겟 재료는 플라즈마로 전환된 때에 EUV 광을 방출하는 재료를 포함함 -, 제1 잔류 플라즈마와 초기 타겟(220a)을 상호작용시키며 - 여기서, 이러한 상호작용은 타겟 영역에 성형 타겟(221b)을 형성하도록 타겟 재료를 제1 공간 분포로부터 성형 타겟 분포로 재배열하고, 성형 타겟이 성형 공간 분포로 재배열된 타겟 재료를 포함함 -, 성형 타겟에서의 타겟 재료의 적어도 일부를 EUV 광을 방출하는 플라즈마로 전환하기 위해 증폭 광빔을 타겟 영역을 향하여 지향시키며, 타겟 영역에 제2 잔류 플라즈마를 형성한다.
申请公布号 KR20160103996(A) 申请公布日期 2016.09.02
申请号 KR20167017443 申请日期 2014.12.18
申请人 ASML NETHERLANDS B.V. 发明人 TAO YEZHENG;STEWART JOHN TOM;BROWN DANIEL J.W.
分类号 H05G2/00;G03F7/20;G21K5/00 主分类号 H05G2/00
代理机构 代理人
主权项
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