TESTING DEVICE OF LOGIC CIRCUIT,申请号JP19790137463-传众专利搜索

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发明名称	TESTING DEVICE OF LOGIC CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPS5661663(A)	申请公布日期	1981.05.27
申请号	JP19790137463	申请日期	1979.10.24
申请人	NIPPON ELECTRIC CO	发明人	MATSUKAWA YASUSHI
分类号	G01R31/28;G01R31/319	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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