| 发明名称 |
METHOD OF LOCATING FLAW AND DETERMINING FLAW FORM IN ELECTRIC CIRCUIT |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
SU653588(A1) |
申请公布日期 |
1979.03.25 |
| 申请号 |
SU19772515202 |
申请日期 |
1977.07.29 |
| 申请人 |
NI T I BYTOVOGO OBSLUZHIVANIYA |
发明人 |
KHOROKHORIN DMITRIJ V,SU |
| 分类号 |
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
