发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR MASK PATTERN EXPOSURE
摘要 PURPOSE:To simplify the estimate positioning operation and to ealize the method and apparatus for mask pattern exposure of high accuracy even in case of using a film.
申请公布号 JPS5396678(A) 申请公布日期 1978.08.24
申请号 JP19770010695 申请日期 1977.02.04
申请人 HITACHI LTD 发明人 SHIOI HIDEJI
分类号 H01L21/027;G03F7/20 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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