发明名称 互补式金氧半导体元件及其制造方法
摘要 一种CMOS,包括:具有第一主动区与第二主动区之基底;分别配置于第一、第二主动区之基底上的第一、第二闸极结构;分别配置于第一、第二闸极结构之侧壁的第一、第二间隙壁结构;分别配置于第一、第二闸极结构侧边之基底中的第一、第二LDD;配置于第一主动区之基底中,且位于第一LDD侧边之磊晶材料层;以及保护层,其配置于第一闸极结构、第一间隙壁结构以及第一LDD上,且覆盖住第二主动区,其中保护层为含碳之氧-氮化物层。
申请公布号 TW200814233 申请公布日期 2008.03.16
申请号 TW095134172 申请日期 2006.09.15
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 刘哲宏;郑博伦;林俊安;唐力原;施泓林;范铭棋;孟宪梁;江日舜
分类号 H01L21/8238(2006.01) 主分类号 H01L21/8238(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号