发明名称 | 互补式金氧半导体元件及其制造方法 | ||
摘要 | 一种CMOS,包括:具有第一主动区与第二主动区之基底;分别配置于第一、第二主动区之基底上的第一、第二闸极结构;分别配置于第一、第二闸极结构之侧壁的第一、第二间隙壁结构;分别配置于第一、第二闸极结构侧边之基底中的第一、第二LDD;配置于第一主动区之基底中,且位于第一LDD侧边之磊晶材料层;以及保护层,其配置于第一闸极结构、第一间隙壁结构以及第一LDD上,且覆盖住第二主动区,其中保护层为含碳之氧-氮化物层。 | ||
申请公布号 | TW200814233 | 申请公布日期 | 2008.03.16 |
申请号 | TW095134172 | 申请日期 | 2006.09.15 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 刘哲宏;郑博伦;林俊安;唐力原;施泓林;范铭棋;孟宪梁;江日舜 |
分类号 | H01L21/8238(2006.01) | 主分类号 | H01L21/8238(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |