加速劣化試験法に基づいた高分子部品に対する弁の予測

摘要

請求される方法及びシステムは、弁アセンブリの高分子部品のようなプロセス制御装置の部品に対する加速劣化試験プロトコルを作成する。その加速劣化試験プロトコルは、プロセスプラント設備内でプロセス制御装置の動作中に用いられるべき予想動作条件に応答して具体的に作成される。作成された加速劣化試験からの試験データを分析して、それらの予想動作条件のもとでの破損を通じて部品をプロファイリングする部品の推定寿命プロファイルを定める。高分子特徴に対する特定のプロファイリングは、酸化破損プロファイリングと他の疲労条件とを含む。【選択図】図７