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发明名称 ENHANCED TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 EP0358371(A3) 申请公布日期 1992.02.26
申请号 EP19890308503 申请日期 1989.08.22
申请人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED 发明人 WHETSEL, LEE D., JR.
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3185;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/56;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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