发明名称 |
对细长物体涂层厚度的测量与控制 |
摘要 |
一种被覆光纤制造法,包括对光纤淀积导电涂层和测量涂层电导值,其中主要是测定所述涂层(如碳层)厚度,该测量包括下列步骤:藉输入信号形成电磁场;令被覆光纤通过经激励的电磁场;令所述导电涂层相对于电场这样取向,以使其相互作用增大从输入至输出端的传输损耗;根据取自电磁场的输出信号相对于基准信号的变化,测定导电涂层的电导和厚度;根据该测值产生用于动态控制淀积工艺参数的信号。本法优点是被覆光纤不接触制造设备,且无需中断生产过程。 |
申请公布号 |
CN1049190A |
申请公布日期 |
1991.02.13 |
申请号 |
CN90106614.1 |
申请日期 |
1990.07.30 |
申请人 |
美国电话电报公司 |
发明人 |
罗伯特·M·阿特金斯;乔治·E·彼得森;雷蒙·D·图明纳罗 |
分类号 |
C23C16/52;C23C16/26;C23C16/54;C03C25/02;G01B7/10;G05B11/06 |
主分类号 |
C23C16/52 |
代理机构 |
中国专利代理有限公司 |
代理人 |
吴增勇;吴秉芬 |
主权项 |
1、一种给细长的介质材料敷以涂层的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:在移动着的所述细长材料上淀积涂层;和求出该移动材料上的涂层的电气参数值。 |
地址 |
美国纽约州 |