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发明名称 APPARATUS FOR TESTING SYSTEM
摘要
申请公布号 KR20010108547(A) 申请公布日期 2001.12.08
申请号 KR20000029000 申请日期 2000.05.29
申请人 LG INNOTEC CO., LTD. 发明人 NA, YEONG JIN
分类号 (IPC1-7):G01R23/02 主分类号 (IPC1-7):G01R23/02
代理机构 代理人
主权项
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