发明名称 光罩组合及其形成细线图案之曝光方法
摘要 本发明揭露一种光罩组合,包括:一第一光罩,具有平行且交错排列之复数相位0度透光区与复数相位180度透光区;以及一第二光罩,具有一透明基底与一条状遮光层,其中上述条状遮光层覆盖于上述透明基底部分表面,上述条状遮光层之宽度不小于上述相位0度透光区与上述相位180度透光区之间距。本发明亦揭露透过光罩组合曝光以形成细线图案之方法。
申请公布号 TW200410043 申请公布日期 2004.06.16
申请号 TW091135411 申请日期 2002.12.06
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 戴昌铭;张仲兴;游展汶;林本坚
分类号 G03F1/08 主分类号 G03F1/08
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区园区三路一二一号