光记录介质的缺陷管理区划分方法和缺陷管理方法

摘要

本发明涉及光记录介质和光记录介质记录/回放装置与方法，用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说，本发明把线性替代控制(LRC)位增加到次要缺陷列表(SDL)项中以区分根据线性替代算法列在SDL项的缺陷块信息和根据跳过算法列在SDL项的缺陷块信息，从而允许光记录介质记录/回放装置把正确的信息传送到主机。而且，当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时，不执行线性替代，LRC位与缺陷块的位置信息一起被设置在SDL项中以表示在备用区充满时得到相应的SDL项，从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据。因此，本发明有效提高了对盘片的管理效率。

主权项

1.一种管理在数据写入或读取期间发现的缺陷块的光记录介质的缺陷管理方法，所述方法包括：(A)在光记录介质写入数据或从光记录介质读取数据期间，一旦发现缺陷块，就基于将要写入或读取的数据类型是实时数据还是非实时数据、和/或是否剩余可用的备用区，判定是否应将缺陷块替换为替代块；(B)基于步骤(A)的结果存储一指示信息，该信息表示缺陷块是否被替换为替代块。