发明名称 Method for fabricating a thin film transistor
摘要 Es wird ein Verfahren zur Herstellung von Dünnschichttransistoren mit einer Halbleiterschicht aus amorphem Silizium und Drain- und Source-Kontakten aus n-dotiertem amorphem Silizium vorgeschlagen, wobei zwischen die Halbleiterschicht und die n-dotierte amorphe Siliziumschicht für die Drain- und Source-Kontakte eine Ätzstoppschicht aus einem halbleitenden Material aufgebracht wird. <IMAGE>
申请公布号 EP0883169(A2) 申请公布日期 1998.12.09
申请号 EP19980108322 申请日期 1998.05.07
申请人 ROBERT BOSCH GMBH 发明人 GLUECK, JOACHIM, DR.;HENKE, SASCHA, DR.
分类号 H01L21/336;H01L29/786;(IPC1-7):H01L21/336 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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