发明名称 |
Method for fabricating a thin film transistor |
摘要 |
Es wird ein Verfahren zur Herstellung von Dünnschichttransistoren mit einer Halbleiterschicht aus amorphem Silizium und Drain- und Source-Kontakten aus n-dotiertem amorphem Silizium vorgeschlagen, wobei zwischen die Halbleiterschicht und die n-dotierte amorphe Siliziumschicht für die Drain- und Source-Kontakte eine Ätzstoppschicht aus einem halbleitenden Material aufgebracht wird. <IMAGE>
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申请公布号 |
EP0883169(A2) |
申请公布日期 |
1998.12.09 |
申请号 |
EP19980108322 |
申请日期 |
1998.05.07 |
申请人 |
ROBERT BOSCH GMBH |
发明人 |
GLUECK, JOACHIM, DR.;HENKE, SASCHA, DR. |
分类号 |
H01L21/336;H01L29/786;(IPC1-7):H01L21/336 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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