| 主权项 |
1.一种侦测电路板短路之光源结构,为具有一检测 装置,该检测装置包括有; 一显示装置,该显示装置为设于该检测装置之适当 位置处,而可显示检测装置及待测基板之状况; 一传送平台,该传送平台设为置于该检测装置顶部 而邻近该显示装置之一侧,而可传送待测基板; 一撷取装置,该撷取装置为跨设于该检测装置之传 送平台上方,且该撷取装置包含有一用以撷取待测 基板之反射光的光耦合元件、以及用以产生光源 照射待测基板之一反射光源组、一第一散射光源 组与一第二散射光源组; 藉由撷取装置之第二散射光源组,便可补足低角度 亮度且不易造成表面与底部亮度不均之问题,因此 于影像撷取上产生最低失真之状况,且可对较薄之 微小短路提供照明,使其改善短路侦测之能力,并 达到各角度皆能有绝佳侦测能力与假点比例之目 的。 2.如申请专利范围第1项所述侦测电路板短路之光 源结构,其第二散射光源组系为不可见光发光二极 体(LED,Light Emitting Diode)。 3.如申请专利范围第2项所述侦测电路板短路之光 源结构,其不可见光发光二极体(LED,Light Emitting Diode)系可产生材质上明显之区分,且可大幅提高短 路之对比与侦测能力。 4.如申请专利范围第1项所述侦测电路板短路之光 源结构,其第一散射光源组进一步系可设为不可见 光发光二极体(LED,Light Emitting Diode)。 5.如申请专利范围第1项所述侦测电路板短路之光 源结构,其撷取装置系为复数个以上。 6.如申请专利范围第1项所述侦测电路板短路之光 源结构,其反射光源组系针对线路之表面缺陷做一 检测,其中表面缺陷系如凹陷及缺口等不良之状况 。 7.如申请专利范围第1项所述侦测电路板短路之光 源结构,其第一散射光源组及第二散射光源组系针 对线路之立体底层缺点做一检测,其中立体底层缺 点系如突出及微短路等不良之状况。 图式简单说明: 第一图系习用之立体图。 第二图系习用之实施例图。 第三图系本创作之立体图。 第四图系本创作之局部示意图之一。 第五图系本创作之局部示意图之二。 第六图系本创作之实施例图之一。 第七图系本创作之实施例图之二。 第八图系本创作之实施例图之三。 |
