发明名称 Rasterlumineszenzlichtmikroskop mit Gittern aus Lumineszenzverhinderungslicht und weiterem Licht
摘要 Ein Rasterlumineszenzlichtmikroskop (43) zum räumlich hochaufgelösten Abbilden einer einen Lumineszenzmarker aufweisenden Struktur einer Probe (15) weist eine Lumineszenzverhinderungslicht (38) und sich von dem Lumineszenzlicht unterscheidendes weiteres Licht bereitstellende Lichtquelle (46), eine Lichtformungs- und -ausrichteinrichtung und einen Detektor (56) auf. Die Lichtformungs- und -ausrichteinrichtung formt aus zwei nicht kohärenten Strahlen (19, 20) des Lumineszenzverhinderungslichts (38) mittels optischer Gitter (21, 22) vier paarweise kohärente Teilstrahlen und fokussiert diese mit einem gemeinsamen Objektiv (25), so dass sie im Bereich der Probe (15) zwei sich kreuzende Liniengitter ausbilden. Die sich kreuzenden Liniengitter weisen jeweils eine Mehrzahl von eindimensional begrenzten lokalen Intensitätsminima auf, so dass eine Intensitätsverteilung des Lumineszenzverhinderungslichts (38) in der Probe ein zweidimensionales Feld aus gleichartigen, mindestens zweidimensional begrenzten lokalen Intensitätsminima aufweist. Mindestens ein Strahl (39, 40) des weiteren Lichts (17) tritt zusammen mit einem der beiden Strahlen (19, 20) des Lumineszenzverhinderungslichts (38) in die Lichtformungs- und -ausrichteinrichtung ein, so dass die Lichtformungs- und -ausrichteinrichtung aus dem Strahl (39, 40) des weiteren Lichts (17) mittels eines der optischen Gitter (21, 22) zwei kohärente Teilstrahlen des weiteren Lichts (17) formt und die Teilstrahlen des weiteren Lichts (17) mit dem Objektiv (25) gemeinsam fokussiert, so dass sie im Bereich der Probe (15) ein Liniengitter ausbilden, das eine Mehrzahl von eindimensional begrenzten und sich parallel zu den lokalen Intensitätsminima eines der Liniengitter des Lumineszenzverhinderungslichts (38) erstreckenden lokalen Intensitätsmaxima und Intensitätsminima aufweist. Weiterhin richtet die Lichtformungs- und -ausrichteinrichtung das Liniengitter des weiteren Lichts (17) so gegenüber dem einen der Liniengitter des Lumineszenzverhinderungslichts (38) aus, dass die lokalen Intensitätsmaxima oder die lokalen Intensitätsminima des weiteren Lichts (17) mit den Intensitätsminima des Lumineszenzverhinderungslichts (38) zusammenfallen. Zudem verlagert die Lichtformungs- und -ausrichteinrichtung die Intensitätsverteilungen des weiteren Lichts (17) und des Lumineszenzverhinderungslichts (38) gegenüber der Probe (15), um einen interessierenden Bereich der Probe (15) mit den Intensitätsminima der Intensitätsverteilung des Lumineszenzverhinderungslichts (38) abzutasten. Der Detektor (56) registriert das aus den Bereichen der einzelnen Intensitätsminima der Intensitätsverteilung des ...
申请公布号 DE102015109305(B3) 申请公布日期 2016.08.11
申请号 DE201510109305 申请日期 2015.06.11
申请人 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. 发明人 Hell, Stefan W.;Chmyrov, Andriy
分类号 G02B21/06;G01N21/63;G01N21/64;G02B21/24 主分类号 G02B21/06
代理机构 代理人
主权项
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