发明名称 FAULT DETECTOR APPARATUS OF INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD THEREOF, ESPECIALLY COMPRISING BLOCK SELECTION UNIT OUTPUTTING OUTPUT SIGNALS OF SELECTED BLOCK
摘要
申请公布号 KR100474992(B1) 申请公布日期 2005.02.24
申请号 KR19970037560 申请日期 1997.08.06
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 NAM, JAE UK
分类号 G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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