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发明名称 Verfahren und Einrichtung zur Messung von Kenngrössen einer Probe durch Spektralanalyse
摘要
申请公布号 DE19960586(B4) 申请公布日期 2008.04.24
申请号 DE19991060586 申请日期 1999.12.15
申请人 SIEMENS AG 发明人 MAIER, PETER
分类号 G01J3/28;G01N21/25;G01N21/27;G01N35/00 主分类号 G01J3/28
代理机构 代理人
主权项
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