发明名称 Halbleitervorrichtung mit Temperaturerfassungsfunktion
摘要 Eine mit einer Temperaturerfassungsfunktion versehene Halbleitervorrichtung (11) mit einer hohen Temperaturerfassungsgenauigkeit wird zur Verbesserung der ESD-Beständigkeit einer Temperaturerfassungsdiode bereitgestellt. Die Halbleitervorrichtung weist ein Halbleiterelement (12) auf. Die Temperaturerfassungsdiode (13) wird zur Erfassung der Temperatur des Halbleiterelements und einer Umgebungstemperatur des Halbleiterelements verwendet. Die Schutzdiode (14) ist zwischen einer Kathode (K) der Temperaturerfassungsdiode und einer Masseseite (S) des Halbleiterelements verbunden, wenn das Halbleiterelement aktiviert ist.
申请公布号 DE102004062214(A1) 申请公布日期 2005.08.04
申请号 DE20041062214 申请日期 2004.12.23
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOYOTA JIDOSHOKKI, KARIYA 发明人 MORI, SHOGO;ONO, KENJI
分类号 H01L21/822;H01L23/34;H01L23/62;H01L27/02;H01L27/04;H01L27/06;H01L29/78;H03K17/08;(IPC1-7):H01L23/62 主分类号 H01L21/822
代理机构 代理人
主权项
地址