发明名称 |
Halbleitervorrichtung mit Temperaturerfassungsfunktion |
摘要 |
Eine mit einer Temperaturerfassungsfunktion versehene Halbleitervorrichtung (11) mit einer hohen Temperaturerfassungsgenauigkeit wird zur Verbesserung der ESD-Beständigkeit einer Temperaturerfassungsdiode bereitgestellt. Die Halbleitervorrichtung weist ein Halbleiterelement (12) auf. Die Temperaturerfassungsdiode (13) wird zur Erfassung der Temperatur des Halbleiterelements und einer Umgebungstemperatur des Halbleiterelements verwendet. Die Schutzdiode (14) ist zwischen einer Kathode (K) der Temperaturerfassungsdiode und einer Masseseite (S) des Halbleiterelements verbunden, wenn das Halbleiterelement aktiviert ist.
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申请公布号 |
DE102004062214(A1) |
申请公布日期 |
2005.08.04 |
申请号 |
DE20041062214 |
申请日期 |
2004.12.23 |
申请人 |
KABUSHIKI KAISHA TOYOTA JIDOSHOKKI, KARIYA |
发明人 |
MORI, SHOGO;ONO, KENJI |
分类号 |
H01L21/822;H01L23/34;H01L23/62;H01L27/02;H01L27/04;H01L27/06;H01L29/78;H03K17/08;(IPC1-7):H01L23/62 |
主分类号 |
H01L21/822 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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