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发明名称 DEFECT DETECTING METHOD
摘要
申请公布号 JPS52153487(A) 申请公布日期 1977.12.20
申请号 JP19760069690 申请日期 1976.06.16
申请人 MITSUBISHI RAYON CO 发明人 MAEDA OSAMI;FUKUDA KOUJI;MASUDA ATSUHIKO
分类号 G01N21/88;G01N21/89;G01N21/892 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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