METHOD FOR LOCALIZED SPECTROSCOPID ANALYSIS OF THE LIGHT DIFFRACTED OF ABSORBED BY A SUBSTANCE PLACED IN A NEAR FIELD

摘要

2072628 9106884 PCTABS00105 La présente invention concerne un procédé d'analyse spectroscopique ponctuelle de la lumière diffractée ou absorbée par une substance transparente et/ou réfléchissante placée dans un champ proche généré en transmission ou en réflexion par un premier rayonnement électromagnétique caractérisé en ce qu'on effectue une analyse spectroscopique ponctuelle dudit champ proche et/ou d'un second rayonnement électromagnétique, orienté simultanément avec ledit premier rayonnement sur ladite substance, ladite analyse concernant la fraction dudit champ proche ou dudit second rayonnement électromagnétique ayant interagi avec ladite substance. La présente invention est plus particulièrement destinée à l'étude spectroscopique à haute résolution de substances transparentes et/ou réfléchissantes dont on relève simultanément le profil optique, ou le profil géométrique, au moyen d'un microscope optique à balayage en champ proche, tel qu'un microscope par transmission en champ évanescent frustré, ou un microscope par réflexion en champ proche guidé.