| 发明名称 |
Structure de test de circuit intégré. |
| 摘要 |
<P>La présente invention concerne un circuit intégré dont au moins un plot d'accès (1) est relié à un élément (4) d'un circuit interne (3) par l'intermédiaire d'un condensateur constitué de deux portions de couches conductrices en regard isolées entre elles. La portion de couche conductrice inférieure (21) est reliée au plot et la portion de couche conductrice supérieure (25) est reliée audit élément. Ainsi la portion de couche conductrice supérieure (25) peut former un plot de test en courant continu.</P>
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| 申请公布号 |
FR2714528(A1) |
申请公布日期 |
1995.06.30 |
| 申请号 |
FR19930015995 |
申请日期 |
1993.12.27 |
| 申请人 |
SGS THOMSON MICROELECTRONICS SA |
发明人 |
SMEARS NICHOLAS WILLIAM |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66;H01L21/822;H01L23/485;H01L23/58;H01L27/04;(IPC1-7):H01L23/485 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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