PROCEDE POUR TESTER DES SUPPORTS PORTANT PLUSIEURS CIRCUITS INTEGRES A FONCTIONNEMENT NUMERIQUE, SUPPORT POURVU DE TELS CIRCUITS, CIRCUIT INTEGRE PROPRE A ETRE MONTE SUR UN TEL SUPPORT ET DISPOSITIF DE TEST POUR TESTER DE TELS SUPPORTS

摘要

LA MANIERE DE TESTER UNE FONCTION D'INTERCONNEXION ENTRE DEUX CIRCUITS INTEGRES QUI SONT MONTES RELIES ENTRE EUX PAR DES LIAISONS D'INFORMATION SUR UN SUPPORT, PAR EXEMPLE POURVU D'UN CABLAGE IMPRIME, EST DECRITE. LES CIRCUITS INTEGRES SONT, EN OUTRE, CONNECTES A UN BUS SERIE PERMETTANT LA COMMUNICATION DE MOTIFS DE TEST ET DE MOTIFS DE RESULTAT ENTRE UN DISPOSITIF DE TEST QUI PEUT Y ETRE CONNECTE ET LES CIRCUITS INTEGRES RESPECTIFS. SELON UNE FORME D'EXECUTION PREFEREE, LE BUS EST FORME PAR UN BUS DIT IC. SELON UN DEVELOPPEMENT, CET AGENCEMENT PEUT AUSSI ETRE UTILISE POUR TESTER LA LOGIQUE INTERNE DES CIRCUITS INTEGRES. POUR TESTER LA FONCTION D'INTERCONNEXION, DES CELLULES D'ADMISSIONEVACUATION SONT PREVUES QUI COMPORTENT EGALEMENT UNE CONNEXION EN PARALLELE POUR REMPLIR, SELON UN MODE TRANSPARENT, LA FONCTION D'EXECUTION NORMALE. DE PLUS, ELLES COMPORTENT DES CONNEXIONS EN SERIE PERMETTANT LA COMMUNICATION DES MOTIFS DE TESTRESULTAT A LA MANIERE D'UN REGISTRE A DECALAGE.