发明名称 ETCHING METHOD
摘要 [과제] 실리콘 산화막 및 실리콘 질화막이 교대로 적층된 제1 영역, 및 제1 영역의 실리콘 산화막의 막두께보다 큰 막두께를 갖는 실리콘 산화막을 갖는 제2 영역을 동시에 에칭하는 방법을 제공한다. [해결수단] 일실시형태의 방법에서는, 플라즈마 처리 장치의 처리 용기 내에서 플루오로카본 가스, 하이드로플루오로카본 가스 및 산소 가스를 포함하는 제1 처리 가스의 플라즈마가 생성된다. 이어서, 처리 용기 내에서, 플루오로카본 가스, 하이드로플루오로카본 가스, 산소 가스 및 할로겐 함유 가스를 포함하는 제2 처리 가스의 플라즈마가 생성된다. 이어서, 처리 용기 내에서, 산소 가스를 포함하는 제3 처리 가스의 플라즈마가 생성된다.
申请公布号 KR20160119709(A) 申请公布日期 2016.10.14
申请号 KR20160040957 申请日期 2016.04.04
申请人 TOKYO ELECTRON LIMITED 发明人 NAGATOMO YU;ISHITA RYUUU;TAMURA DAISUKE;KOIWA KOUSUKE
分类号 H01L21/3213;H01J37/32;H01L21/306;H01L21/3065;H01L21/311;H01L27/115 主分类号 H01L21/3213
代理机构 代理人
主权项
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