发明名称 | 双管式气体采样装置 | ||
摘要 | 本创作系关于一种气体采样装置之创新设计,该装置包括二支具有扩散孔之中空方管,一隔热片,一反射元件,一光源及一光侦测器;其中,二支方管上下并排,其间置一隔热片,反射元件有两互成直角之反射面,二支方管一端固定于反射元件并各自对准一反射面,二支方管另一端则分别放置光源与光侦测器,方管外侧之扩散孔装有透气网。使用时,方管平放,光源在下方管,当光源发光时,光线经过下方管并经反射面反射进入上方管,最后由光侦测器接收,经由分析红外光线于管中被待测气体吸收特定波长所产生之强度变化,即可量测气体浓度;而光源以金属包装,发光时使下方管温度高于上方管而产生对流作用,使气体由下而上对流进入上方管,以增加气体采样速率。 | ||
申请公布号 | TW354646 | 申请公布日期 | 1999.03.11 |
申请号 | TW087210414 | 申请日期 | 1998.06.29 |
申请人 | 财团法人工业技术研究院 | 发明人 | 林耀明 |
分类号 | G01N1/22 | 主分类号 | G01N1/22 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 1.一种双管式气体采样装置,该装置包含上下采样槽、隔热片、反射元件、光源及光侦测器,其中隔热片系置于该上下采样槽间,该上下采样槽并具有扩散孔以利气体扩散,该上下采样槽一端固定于该反射元件,另一端分别安装该光源及该光侦测器,该反射元件具有两互成直角之反射表面而将光径分布于上下采样槽,以缩短该装置之长度。2.如申请专利范围第1项之装置,其中该光源所产生之热量造成该上下采样槽温度差而形成热对流,以增进气体扩散并加速气体采样速率。图式简单说明:第一图为本创作之双管式气体采样装置。 | ||
地址 | 新竹县竹东镇中兴路四段一九五号 |