发明名称 转轴测试治具改良
摘要 一种转轴测试治具改良,系透过一连接于驱动装置之蜗轮,直接带动可固定可折叠式电子装置的牵引装置之转轴,藉以排除转动的死角,而可折叠式电子装置系位于平台上,其可折叠式电子装置之一端系固定于牵引装置上,透过蜗杆旋转的连接于牵引装置,使蜗杆带动蜗轮旋转进而带动牵引装置,连同此可折叠式电子装置产生往复运动进行转轴寿命的测试,藉以测试可折叠式电子装置之转轴。
申请公布号 TW549437 申请公布日期 2003.08.21
申请号 TW091219274 申请日期 2002.11.29
申请人 英业达股份有限公司 发明人 吴文贤
分类号 G01M3/02 主分类号 G01M3/02
代理机构 代理人 许世正 台北市信义区忠孝东路五段四一○号四楼
主权项 1.一种转轴测试治具改良,系用以测试一可摺叠式电子装置,其中该电子装置系包含一主体部以及一测试部,该主体部以及该测试部系透过一转轴连接,测试时以该转轴为轴心,使该测试部相对于该主体部进行往复摆动来测试该转轴之寿命,系包含:一平台,用以承载该可摺叠式电子装置之主体部;一牵引装置,可活动地装设于该平台,其两端各具有一与该可摺叠式电子装置之该转轴系位于同一直线上之枢轴,可用以牵引该测试部,使该测试部相对于该主体部转动;一蜗轮,装设于该牵引装置之枢轴一侧,并可连动该枢轴转动;一蜗杆,耦合于该蜗轮;及一驱动装置,用以提供一旋转驱动力,并连接于该蜗杆,可藉由该蜗杆将该旋转区动力透过该蜗轮传至该牵引装置之转轴,使该牵引装置带动该测试部以其转轴为轴心,相对于该主体部往复转动摆动。2.如申请专利范围第1项所述之一种转轴测试治具改良,其中该驱动装置系为一马达。3.如申请专利范围第2项所述之一种转轴测试治具改良,其中该马达系透过一可程式逻辑控制器(Progamming logicalcontroller)控制其旋转的角度。4.如申请专利范围第1项所述之一种转轴测试治具改良,其中该平台更提供一挟持装置用以固定该主体部。5.如申请专利范围第1项所述之一种转轴测试治具改良,其中该框架结构系为一ㄇ字型框架结构。6.如申请专利范围第5项所述之一种转轴测试治具改良,其中该ㄇ字型框架结构系根据该可摺叠式电子装置尺寸,用以固定该可摺叠式电子装置。7.如申请专利范围第1项所述之一种转轴测试治具改良,其中该往复运动之活动角度范围介于0陞H及180陛C。图式简单说明:第1图系本创作所提之转轴测试治具改良立体示意图;第2图伪本创作所提之转轴测试治具改良于可摺叠式电子装置关闭时之实施示意图;第3图系本创作所提之转轴测试治具改良于可摺叠式电子装置开启角度为90度时之实施示意图;第4图系本创作所提之转轴测试治具改良于可摺叠式电子装置开启角度为135度时之实施示意图;及第5图系本创作所提之转轴测试治具改良于可摺叠式电子装置开启角度为180度时之实施示意图。
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