发明名称 半导体装置之制造方法及半导体装置
摘要 本发明提供一种可提高每单位面积的电容器电容的技术及可简化伴随其的制程的技术。在电容器形成区域表面形成至少一个以上的凹凸电容器形成沟4a,以增加电容器表面积,可提高每单位面积的电容器电容。此外,以同一步骤形成前述电容器形成沟4a和形成于半导体基板1表面的元件分离沟4,可简化制程。此外,以同一步骤形成电容器形成区域的电容器的介电膜16a和MISFET形成区域的高耐压用闸绝缘膜16。或是以同一步骤形成电容器形成区域的电容器的介电膜16a及记忆胞形成区域的多晶矽层10a和多晶矽层17之间的记忆体闸层间膜11。
申请公布号 TW200403853 申请公布日期 2004.03.01
申请号 TW092108551 申请日期 2003.04.14
申请人 日立制作所股份有限公司 发明人 冈崎勉;冈田大介;池田良广;塚本惠介;福村达也;宿利章二;原口惠一;岸浩二
分类号 H01L29/78 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本