发明名称 / METHOD SYSTEM AND APPARATUS FOR EVALUATION OF INPUT/OUTPUT BUFFER CIRCUITRY
摘要 I/O 버퍼 회로들을 평가하기 위한 기술들 및 메커니즘들. 실시예에서, 테스트 라운드들이 I/O 버퍼 회로들을 포함하는 디바이스에 대해 수행되고, 테스트 라운드들 각각은 I/O 버퍼 회로들 각각에 대한 각각의 루프-백 테스트를 포함한다. 테스트 라운드들 각각은 송신 클록 신호와 수신 클록 신호 사이의 상이한 각각의 딜레이에 대응한다. 다른 실시예에서, 제1 테스트 라운드는 적어도 하나의 I/O 버퍼 회로에 대한 실패 컨디션을 지시하고, 제2 테스트 라운드는 I/O 버퍼 회로들 각각에 대한 실패 컨디션을 지시한다. I/O 버퍼 회로들에 대한 평가는 디바이스가 테스트 기준을 충족하는지를 결정하고, 그 결정은 제1 테스트 라운드에 대응하는 딜레이와 제2 테스트 라운드에 대응하는 딜레이 사이의 차이에 기초한다.
申请公布号 KR101661538(B1) 申请公布日期 2016.10.10
申请号 KR20157002961 申请日期 2013.06.14
申请人 인텔 코포레이션 发明人 넬슨, 크리스토퍼 제이.;막, 탁 엠.;짐머만, 데이비드 제이.;보그트, 피트 디.
分类号 G01R31/317;G01R31/3177;G01R31/3181;G11C29/12;G11C29/32 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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