| 摘要 |
1. Способ отбора образцов, при этом способ содержит этапы, на которыхa. добавляют образец в камеру, в которой обеспечены магнитные частицы, при этом образец содержит целевой компонент, и камера имеет поверхность обнаружения;b. прикладывают силу магнитного поля к магнитным частицам, чтобы притянуть магнитные частицы к поверхности обнаружения, при этом связанные магнитные частицы, которые захватывают целевой компонент в магнитных частицах, удерживаются на поверхности обнаружения, и несвязанные магнитные частицы, которые не захватывают целевой компонент в магнитных частицах, также удерживаются на поверхности обнаружения;c. сбрасывают по меньшей мере часть образца из камеры и затем добавляют новый образец в камеру;d. изменяют силу магнитного поля, прилагаемого к магнитным частицам, чтобы высвободить несвязанные магнитные частицы с поверхности обнаружения;e. повторяют этапы b-d в течение определенного числа циклов, при этом перед этапом приложения этап b дополнительно содержит этап, на которомсмешивают магнитные частицы и целевой компонент посредством формирования переменного магнитного поля в течение заданного периода времени.2. Способ по п. 1, дополнительно содержит этап, на которомизмеряют количество связанных магнитных частиц, которые удерживаются на поверхности обнаружения после завершения этапа повторения.3. Способ по п. 1, в котором этап приложения содержит этап, на которомформируют первое магнитное поле для притяжения магнитных частиц к поверхности обнаружения;и этап изменения содержит этап, на которомпрекращают формирование первого магнитного поля, чтобы высвободить несвязанные магнитные частицы с |
