半导体装置

摘要

提供一种能够对安装于一内插器之上的各个IC晶片测试的半导体装置。在具有其上安装一第一IC晶片和一第二IC晶片的内插器的半导体装置中，藉由输入布线和输出布线分别将第一IC晶片和第二IC晶片外接该内插器，并且用作一开关的一电晶体元件串联地插入到第一IC晶片和第二IC晶片之间连接的布线中。