| 主权项 |
1.一种可精密调压的测试针座,是设置在一测试机 台上,供一测试用探针装设,以对一工作台上之工 件做测量,且该测试针座包含有: 一座体,装设在该测试机台上,并具有一支承部; 一调整元件,可活动地设置在该座体上; 一置针件,具有一与该座体相接之联结部;该联结 方式可以轴承、滑轨滑块、线性轴承、甚至以弹 簧之方式来联结;一远离该联结部并供该探针装设 之自由端部、一可抵接该座体支承部而受其限位 之抵止部及一位于该连结部一侧并对应该调整元 件之施力部;及 二磁性元件,分别对应设置于该调整元件与该置针 件施力部处,并在常态下使该置针件抵止部抵靠该 座体,且藉由该调整元件调整该二磁性元件之间的 距离,可改变该探针对工件的压力。 2.依据申请专利范围第1项所述之可精密调压的测 试针座,更包含有一度量装置,该度量装置具有一 固设在该调整元件上而随其位移之指针及一固设 在该座体上供该指针指示之压力表。 3.依据申请专利范围第1项所述之可精密调压的测 试针座,更包含有一设置在该座体支承部与该置针 件抵止部间之感应器,以侦测两者之抵接状态,而 得知该探针是否已脱离该工件之一边界。 4.依据申请专利范围第1项所述之可精密调压的测 试针座,其中,该调整元件是一螺栓或其它可让磁 石距离易于调整改变之装置。 5.依据申请专利范围第1项所述之可精密调压的测 试针座,其中,该置针件之施力部位于该联结部与 自由端部之间,且该调整元件位于该置针件上方, 又该等磁性元件之相对面为相同极性,而呈同性相 斥之状态。 6.依据申请专利范围第1项所述之可精密调压的测 试针座,其中,该置针件之联结部位于该施力部与 自由端部之间,且该调整元件位于该置针件上方, 又该等磁性元件之相对面为相反极性,而呈异性相 吸之状态。 7.依据申请专利范围第1项所述之可精密调压的测 试针座,其中,该自由端部两侧可加装侧向磁力支 撑部,可使自由端部在上下移动时不会因连结部之 间隙而造成其走又相对位置之偏摆。 8.依据申请专利范围第1项所述之可精密调压的测 试针座,其中,该座体包括有一基座、一滑设于该 基座并受一第一螺杆沿一第一方向驱动的第一滑 块、一滑设于该第一滑块并受一第二螺杆沿一第 二方向驱动的第二滑块、一滑设于该第二滑块并 受一第三螺杆沿一第三方向驱动的第三滑块及一 固结于该第三滑块的承座,该第一、二、三方向互 相垂直,且该调整元件、置针件、支承部是设置于 该承座上。 图式简单说明: 图1是一般LED测试机进行检测时之俯视示意图; 图2是上述LED测试机检测时之部分剖面示意图; 图3是本新型可精密调压的测试针座之一第一较佳 实施例装设在一机台上使用时的俯视示意图; 图4是该第一较佳实施例装设在该机台上使用时的 侧视示意图; 图5是该第一较佳实施例的部分剖面示意图。 图6是该第一较佳实施例的部分俯视示意图。 图7是该第一较佳实施例的使用示意图,说明一探 针受一工件抵触而带动一置针件抬昇之情形。 图8是是本新型可精密调压的测试针座之一第二较 佳实施例的侧视示意图。 图9是本新型可精密调压的测试针座之防止因连接 部间隙造成探针位置偏移之侧向磁力装置示意图 。 |
