发明名称 METODO DE FOTOGRABADO DE CLISES DE REJILLAS.
摘要 Método de fotograbado de clisés de rejilla, en el que se utiliza un positivo semitónico, caracterizado en que comprende las operaciones de exponer un material fotosensible a una fuente luminosa a través de una rejilla de grabado dotada del número deseado de líneas transversales transparentes, exponer dicho material fotosensible a la fuente luminosa a través del mencionado positivo semitónico, exponer el mismo material fotosensible a la fuente luminosa mediante interposición de una lámina difusora entre el citado positivo semitónico y el material fotosensible y efectuar las siguientes operaciones de producción de placas, siendo variable el orden de las citadas operaciones de exposición.
申请公布号 ES456009(A1) 申请公布日期 1978.01.16
申请号 ES19090004560 申请日期 1977.02.17
申请人 TOPPAN PRINTING CO., LTD. 发明人
分类号 G03F;(IPC1-7):03F/ 主分类号 G03F
代理机构 代理人
主权项
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