| 发明名称 |
UNIT CELL TESTING JIG FOR ELECTRIC DOUBLE LAYER |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR940002726(Y1) |
申请公布日期 |
1994.04.23 |
| 申请号 |
KR19910005097U |
申请日期 |
1991.04.13 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRO-MECHANICS CO., LTD. |
发明人 |
IM, CHOL - YON |
| 分类号 |
G01R31/36;(IPC1-7):G01R31/36 |
主分类号 |
G01R31/36 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
