| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WHERE SDRAM CORE AND LOGIC CIRCUIT ARE MIXEDLY MOUNTED ON SINGLE CHIP AND TESTING METHOD OF THE SDRAM CORE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10283777(A) |
申请公布日期 |
1998.10.23 |
| 申请号 |
JP19970086600 |
申请日期 |
1997.04.04 |
| 申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
HATANAKA MAKOTO;YAMAZAKI AKIRA;TOMISHIMA SHIGEKI;YAMAGATA NARIHITO |
| 分类号 |
G11C11/407;G11C11/401;G11C29/02;G11C29/14;G11C29/16;G11C29/48;(IPC1-7):G11C11/407;G11C29/00 |
主分类号 |
G11C11/407 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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