发明名称 多晶片覆晶封装结构
摘要 一种多晶片覆晶封装结构,其基板系具有一上表面、一下表面及贯穿上、下表面之通孔,其中该上表面系以第一凸块覆晶结合第一晶片之主动面,该下表面系以第二凸块覆晶结合第二晶片之主动面,而填充材系形成于第二晶片之主动面及基板之下表面之间并经由该基板之通孔而流布于该第一晶片之主动面及基板之上表面之间,以一体包覆第一凸块及第二凸块,因此不需翻转基板再次填胶,以降低制程成本及提升制程效率。
申请公布号 TW528202 申请公布日期 2003.04.11
申请号 TW091202385 申请日期 2002.02.26
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 陈裕文;周惠隆;谢新贤
分类号 H01L23/02 主分类号 H01L23/02
代理机构 代理人 张启威 高雄市左营区立文路七十七号十六楼之二
主权项 1.一种多晶片覆晶封装结构,系包含有:一基板,系具有一上表面、一下表面及贯穿该上、下表面之通孔;一第一晶片,系具有一主动面及一非主动面,该第一晶片之主动面系形成有复数个第一凸块,并覆晶结合至该基板之上表面;至少一第二晶片,系具有一主动面及一非主动面,该第二晶片之主动面系形成有复数个第二凸块,并覆晶结合至该基板之下表面;一填充材,其系一体形成于该基板之通孔、第一晶片之主动面及基板之上表面之间与第二晶片之主动面及基板之下表面之间,用以包覆第一凸块及第二凸块;及复数个焊球,系结合于该基板之下表面。2.如申请专利范围第1项所述之多晶片覆晶封装结构,其中该第一晶片或第二晶片之非主动面系呈裸露。3.如申请专利范围第1项所述之多晶片覆晶封装结构,其中该第二晶片系为一研磨(lapping)处理之晶片。4.如申请专利范围第1项所述之多晶片覆晶封装结构,其中该些焊球之高度系大于由基板下表面至该第二晶片之非主动面之高度。5.如申请专利范围第1项所述之多晶片覆晶封装结构,其中该第二晶片之尺寸系小于第一晶片之尺寸。6.一种多晶片覆晶封装结构,系包含有:一基板,系具有一上表面、一下表面及贯穿该上、下表面之通孔;一第一晶片,系具有一主动面及一非主动面,该第一晶片之主动面系形成有复数个第一凸块,并覆晶结合至该基板之上表面;至少一第二晶片,系具有一主动面及一非主动面,该第二晶片之主动面系系形成有复数个第二凸块,并覆晶结合至该基板之下表面;及一填充材,其系一体形成于该基板之通孔、第一晶片之主动面及基板之上表面之间与第二晶片之主动面及基板之下表面之间,用以包覆第一凸块及第二凸块。7.如申请专利范围第6项所述之多晶片覆晶封装结构,其中该第一晶片或第二晶片之非主动面系呈裸露。8.如申请专利范围第6项所述之多晶片覆晶封装结构,其中该第二晶片系为与第一晶片尺寸不同之晶片。图式简单说明:第1图:在中国台湾公告第465803号「多晶片堆叠构造」中,以覆晶方式多晶片堆叠构造之截面图;第2图:依本创作之一具体实施例中,一多晶片覆晶封装结构之截面图;及第3图:依本创作之一具体实施例中,一多晶片覆晶封装结构同时对第一晶片与第二晶片填充填充材之截面图。
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路二十六号