发明名称 自动切换开机模式之方法
摘要 本发明系一种自动切换开机模式之方法,该方法系一电脑在其基本输出入系统(BIOS),设有第一开机模式及第二开机模式,其中该第一开机模式系于一般开机模式中,设有一侦测软体,该侦测软体对该记忆体模组特性进行侦测,若其中一记忆体模组有错误时,该侦测软体将对有错误之记忆体模组,进行标记,将该第一开机模式转换至第二开机模式,而该第二开机模式系舍弃被标记之记忆体模组,而将该基本输出入系统之各种参数储存在,可进行开机作业且未被标记之记忆体模组内,以提高完成开机程序之机率。
申请公布号 TW576965 申请公布日期 2004.02.21
申请号 TW091124158 申请日期 2002.10.21
申请人 英业达股份有限公司 发明人 陈志伟
分类号 G06F11/00 主分类号 G06F11/00
代理机构 代理人 严国杰 台北市大同区承德路一段七十之一号六楼
主权项 1.一种自动切换开机模式之方法,该方法系在一电脑之基本输出入系统中,设有第一开机模式及第二开机模式,其中该第一开机模式系于一般开机模式中,设有一侦测软体,俾该电脑开始启动该基本输出入系统后,该基本输出入系统系依照下列步骤进行处理:首先,该侦测软体系在该基本输出入系统将其所储存之各种参数,载入该电脑之主机板之记忆体插槽上所安装之记忆体模组前,对该等记忆体模组特性进行侦测,用以判断该等记忆体模组是否有任何错误;若侦测到该等记忆体模组有错误,则该侦测软体对有错误之记忆体模组,进行标记;再将该第一开机模式转换至第二开机模式,而该第二开机模式分别读取该等记忆体模组后,舍弃有被标记之记忆体模组;嗣,将各种参数储存在可进行开机作业且未被标记之记忆体模组内。2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该第二开机模式将在各种参数储存在可进行开机作业且未被标记之记忆体模组,并完成开机程序后,该第二开机模式将再读取该等标记,使得该第二开机模式根据该等标记产生一讯息资料,并传送到该电脑之主机板所设之控制电路,令该电脑之显示器可显示一错误讯息画面。3.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该第二开机模式在读取该等记忆体模组前,先将该等记忆体模组强制设定成个别独立之组态,令该等记忆体模组可分别单独进行存取,再进行后续处理。4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该电脑安装具有晶片组之主机板,其设有一第1.2.3及4记忆体插槽,且至少在第1及2记忆体插槽上安装有记忆体模组,而该基本输出入系统将依照下列步骤进行处理:首先,该第一开机模式利用该侦测软体,对该电脑之主机板之记忆体插槽上所安装之记忆体模组之特性,进行侦测,以判断该等记忆体模组是否有任何错误;若有任何一个记忆体模组有错误,则对有错误之记忆体模组,进行标记;再将该第一开机模式转换至第二开机模式;嗣,该第二开机模式读取第1记忆体插槽之记忆体模组,判断是否是第1记忆体插槽之记忆体模组被标记;若第1记忆体插槽之记忆体模组未被标记,则将该等记忆体模组强制设定成个别独立之组态,令该等记忆体模组可分别单独进行存取;再舍弃有被标记之记忆体模组;嗣,将该基本输出入系统之各种参数储存在,可进行开机作业且未被标记之第1记忆体插槽之记忆体模组内,再进行后续处理。5.如申请专利范围第4项所述之方法,其中当判断该等记忆体模组没有任何错误后,将该基本输出入系统所储存之各种参数,以交叉存取方式,分别载入该第1及2记忆体插槽上所安装之记忆体模组内;再进行后续开机处理程序,以顺利完成开机。6.如申请专利范围第4项所述之方法,其中当判断出第1记忆体插槽之记忆体模组被标记后,停止开机程序。7.如申请专利范围第4项所述之方法,其中该电脑完成开机程序后,该电脑之显示器上显示该第2记忆体插槽之记忆体模组已损坏之画面。8.如申请专利范围第1项所述之方法,其中当判断该等记忆体模组无任何错误时,则继续进行后续开机处理。图式简单说明:第1图乃双直列记忆体模组及其插槽之示意图。第2图乃本发明之流程图。
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