一种用于芯片操作系统的测试方法

摘要

本发明公开了一种用于芯片操作系统的测试方法。包括如下步骤：步骤一，通过对需求评审，进行验收测试设计，进行验收测试；若验收测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；步骤二，通过测试需求分析，系统测试设计，进行系统测试；若系统测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；步骤三，集成测试准备，进行集成测试；若集成测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；详细设计：单元测试准备，进行单元测试；步骤五，得到编码。本发明提供的芯片测试方法保证了软件在开发过程中的质量，目的在于发现程序执行过程中出现的错误、保证用户需求开发过程中的高质量，提高软件开发的效率，降低开发周期。

主权项

一种用于芯片操作系统的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，用户需求：通过对需求评审，进行验收测试设计，进行验收测试；若验收测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；步骤二，需求分析与设计：通过测试需求分析，系统测试设计，进行系统测试；若系统测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；步骤三，概要设计：集成测试准备，进行集成测试；若集成测试出现错误进行回归测试，回归步骤四重复测试；步骤四，详细设计：单元测试准备，进行单元测试；步骤五，得到编码。