发明名称 Test socket
摘要 본 발명은 검사용 소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드 사이에 배치되어 상기 단자와 패드를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 검사용 소켓에 있어서, 제1절연성 시트와, 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 배치되며 두께방향으로 도전성을 나타내고 상기 제1절연성 시트에 결합된 복수의 제1도전부로 이루어진 제1시트형 커넥터; 상기 제1시트형 커넥터의 하측에 배치되고, 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 두께방향으로 신장되어 있으며, 절연성 탄성물질 내에 다수의 도전성 입자가 분포되어 있고, 상단이 상기 도전부에 일체적으로 결합된 복수의 도전성 탄성부; 및 상기 도전성 탄성부의 하측에 배치되는 제2절연성 시트와, 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 배치되며 두께방향으로 도전성을 나타내고 상기 제2절연성 시트에 결합되며 상단이 각각의 도전성 탄성부에 일체적으로 결합된 복수의 제2도전부를 포함하는 제2시트형 커넥터를 포함하되, 각각의 도전성 탄성부는 제1시트형 커넥터와 제2시트형 커넥터에 의하여 상단 및 하단의 위치가 지지되고, 각각의 도전성 탄성부의 사이에는, 도전성 탄성부가 두께방향으로 가압되어 면방향으로 팽창되는 것이 방해되지 않도록 빈공간이 마련되어 있는 검사용 소켓에 대한 것이다.
申请公布号 KR101706331(B1) 申请公布日期 2017.02.15
申请号 KR20150083673 申请日期 2015.06.12
申请人 주식회사 아이에스시 发明人 정영배
分类号 G01R1/04;G01R1/067;G01R31/26 主分类号 G01R1/04
代理机构 代理人
主权项
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