发明名称 半導体装置の製造方法
摘要 【課題】歩留まりを向上できる半導体装置の製造方法を提供する。【解決手段】実施形態に係る半導体装置の製造方法は、第2金属層形成工程と、化合物形成工程と、を有する。第2金属層形成工程においては、第1面と、第1面と反対側の第2面と、を有し、第1面の上に第1金属材料を含む第1金属層が設けられた、炭化シリコンを含む半導体層に対して、第2面の上に、第1金属材料と異なる第2金属材料を含む第2金属層を形成する。化合物形成工程においては、第2金属層に対して、レーザ光を、レーザ光の照射領域の外周同士が重なり、かつ照射領域の重なり回数が実質的に3回以下となるように、第2金属層に照射することで、第2金属材料と炭化シリコンとの化合物を形成する。【選択図】図1
申请公布号 JP2017034027(A) 申请公布日期 2017.02.09
申请号 JP20150150703 申请日期 2015.07.30
申请人 株式会社東芝 发明人 大川 悟;上嶋 亜友美
分类号 H01L29/78;H01L21/268;H01L21/28;H01L21/336;H01L29/12 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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