用于半导体芯片测试的 UID 写入系统及方法

摘要

本发明提供了一种用于半导体芯片测试的UID写入系统，包括彼此连接的半导体芯片、自动测试设备和片上系统，所述片上系统包含所述半导体芯片的UID信息；所述自动测试设备控制所述片上系统对所述半导体芯片写入UID信息。本发明还相应地提供用于半导体芯片测试的UID写入方法，在自动测试设备和被测芯片之间增加一块片上系统，通过USB或者串口方式来控制并传输UID数据，由于USB或串口通信的时间相比ATE动态修改向量的时间几乎可以忽略不计，因此该方法极大的提高了写入/读取UID的速度。

主权项

一种用于半导体芯片测试的UID写入系统，其特征在于，包括彼此连接的半导体芯片、自动测试设备和片上系统，所述片上系统包含所述半导体芯片的UID信息；所述自动测试设备控制所述片上系统对所述半导体芯片写入UID信息。