主权项 |
一种基于SIFT特征点的定位方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:步骤一:采用PCB设计软件获取所需待定位PCB板的布局图;步骤二:利用SIFT特征提取方法获得待定位PCB板布局图上SIFT特征点集合<img file="FDA00011182034800000111.GIF" wi="476" he="65" /><img file="FDA0001118203480000011.GIF" wi="61" he="47" />表示布局图中的第i个SIFT特征点,i为正整数,M为布局图中SIFT特征点的个数;步骤三:通过贴片机中的相机在线获取待定位PCB板的图片,并利用SIFT特征提取方法对待定位PCB板的图片进行SIFT特征提取,从而得到真实图片上SIFT特征点集合<img file="FDA0001118203480000012.GIF" wi="470" he="71" /><img file="FDA0001118203480000013.GIF" wi="58" he="55" />表示真实图片中的第j个SIFT特征点,j为正整数,N为真实图片中SIFT特征点的个数;步骤四:采用SIFT特征匹配的方法对集合<img file="FDA0001118203480000014.GIF" wi="56" he="53" />中的各SIFT特征点与集合<img file="FDA0001118203480000015.GIF" wi="51" he="53" />中的各SIFT特征点进行特征匹配,得到特征匹配点对集合<img file="FDA0001118203480000016.GIF" wi="838" he="71" />根据得到的特征匹配点对集合Π,获得布局图中特征匹配成功的SIFT特征点位置集合X={x<sub>1</sub>,x<sub>2</sub>,…,x<sub>i</sub>}和真实图片中特征匹配成功的SIFT特征点位置集合Y={y<sub>1</sub>,y<sub>2</sub>,…,y<sub>i</sub>},其中,<img file="FDA0001118203480000017.GIF" wi="70" he="56" />表示布局图中的第τ<sub>i</sub>个SIFT特征点,<img file="FDA0001118203480000018.GIF" wi="70" he="62" />表示真实图片中的第γ<sub>i</sub>个SIFT特征点,τ<sub>i</sub>为整数,γ<sub>i</sub>为整数,x<sub>i</sub>表示布局图中第τ<sub>i</sub>个SIFT特征点<img file="FDA0001118203480000019.GIF" wi="75" he="60" />的位置坐标,y<sub>i</sub>表示真是图片中第γ<sub>i</sub>个SIFT特征点<img file="FDA00011182034800000110.GIF" wi="78" he="54" />的位置坐标,步骤五:利用点集配准方法对步骤四获得的集合X和Y进行基于位置的筛选,获得位置集合X′和位置集合Y′,其中,X′={x′<sub>1</sub>,x′<sub>2</sub>,…,x′<sub>k</sub>},X′表示位置筛选后的布局图中特征匹配成功的SIFT特征点位置集合,其中x′<sub>k</sub>为位置集合X中的第k个SIFT特征点的位置;Y′={y′<sub>1</sub>,y′<sub>2</sub>,…,y′<sub>k</sub>},Y′表示位置筛选后的真实图片中特征匹配成功的SIFT特征点位置集合;其中y′<sub>k</sub>为位置集合Y中的第k个SIFT特征点的位置;步骤六:定义中间变量θ=(s,c<sub>x</sub>,c<sub>y</sub>,c<sub>a</sub>),利用下述公式一和公式二,得到PCB板的缩放因子s、PCB板在真实图片中的位置c=(c<sub>x</sub>,c<sub>y</sub>)和角度c<sub>a</sub>,从而完成对PCB板的定位; θ=argminE(s,c<sub>x</sub>,c<sub>y</sub>,c<sub>a</sub>) 公式一,<img file="FDA0001118203480000021.GIF" wi="1334" he="110" />其中,<img file="FDA0001118203480000022.GIF" wi="398" he="123" />R为旋转矩阵,p为整数,c<sub>x</sub>表示PCB板在真实图片中的X轴坐标,c<sub>y</sub>表示PCB板在真实图片中的Y轴坐标。 |