发明名称 半導体装置の作製方法
摘要 【課題】酸化物半導体を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、信頼性の高い半導体装置を作製する。【解決手段】酸化物半導体層403を有するトランジスタ410において、ゲート絶縁層402を酸化ガリウム膜として、酸化物半導体層と接する構成とする。また、酸化物半導体層の上下を挟むように酸化ガリウム膜を配置することによって信頼性を向上する。また、ゲート絶縁層は、酸化ガリウム膜と酸化ハフニウム膜の積層構造としてもよい。【選択図】図1
申请公布号 JP2017011286(A) 申请公布日期 2017.01.12
申请号 JP20160160655 申请日期 2016.08.18
申请人 株式会社半導体エネルギー研究所 发明人 山崎 舜平
分类号 H01L29/786 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人
主权项
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